睿龙科技专业从事PCB抄板、仿制克隆、样机制作以及二次开发，并可提供诸多设计参考、系统级解决方案与样机调试、批量生产等垂直化服务，帮助客户实现其产品最大性价比。
睿龙科技最新反向推出X射线荧光镀层厚度测量仪的新机型，此款克隆仪器通过自动定位功能，可简单迅速地测量镀层厚度，特别适合测量微小化的零部件。对半导体材料、电子元器件、汽车部件等的电镀、蒸镀等的金属薄膜和组成进行测量管理，可保证产品的功能及品质，降低成本。以下是该克隆仪器的相关介绍：
［功能特征］
1. 通过自动定位功能提高操作性
测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大提高样品定位的操作性。
2. 微区膜厚测量精度提高
通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。
3. 多达5层的多镀层测量
使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。
4. 广域观察系统（选配）
可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。
5. 对应大型印刷线路板（选配）
可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。
6. 低价位
与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。
［仪器规格］
检测器： 比例计数管
X射线源： 空冷式小型X射线管
准直器： 0.1、0.2mmφ2种
样品观察： CCD摄像头
样品台移动量：250（X）×200（Y）mm
样品最大高度：150mm
近年来，随着检测零件的微小化，对微区的高精度测量的需求日益增多。此款仪器实现了微区下的高灵敏度，即使在微小准直器(0.1、0.2mm)下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。并且，配备有新开发的薄膜FP法软件，即使没有厚度标准物质也可进行多达5层10元素的多镀层和合金膜的测量，可对应更广泛的应用需求。欢迎广大客户就X射线荧光镀层厚度测量仪仿制克隆及二次开发事宜前来咨询洽谈！