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波导模法
适合各向异性的介质薄膜的测量，它更适合用来描述厚度超过500 nm的薄膜，凭借它的高精度，其他技术还没办法与之竞争。对特定偏振态的测量要选择相应的折射率，再进行数据处理，这是与椭偏法最主要的不同，而且所有的折射率分量都要同时考虑。
布鲁斯特角显微镜法
清晰呈现分子方位，倾斜度，旋转度，典型的测量区域是20-200μm,反射率系数为10-6时就可以清晰成像。它比荧光显微镜方法更有优势，因为不需要作荧光标记，这样就会避免一些不必要的影响。
接触角法
可以获得关于表面成分的重要信息。在固相衬底上的液滴形状由表面张力和地球重力决定，通过分析三相线可以获得接触角。
软件可以自动区分液滴或平面，这与很多商用的程序不同，这就避免了繁杂的输入，使测量快速，精确，友好。
技术参数：
将多种表面测量方法组合在一起.包括:
椭偏仪;表面等离子体共振光谱分析仪
波导模分析仪;反射计分析仪
布鲁斯特角显微镜分析仪
表面等离子体共振显微成像光谱分析仪
成像椭偏仪;接触角分析仪
主要特点：
功能强大
椭偏法：
可以获得：
精度在0.1nm的薄层厚度
衬底的光学常数
分子取向
表面质量分布
表面结构形态
快速获取数据功能使观测诸如腐蚀、吸附等过程成为可能，测量不具有破坏性，适合多种样品的测量，即使液－液界面也可以实现。
椭偏仪的应用十分广泛
注：睿龙现诚挚对外转让其相关案例的全套技术资料并寻求抄板项目合作，欢迎来电来访咨询、洽谈！